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                  化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>激光共聚焦顯微鏡> 奧林巴斯 3D測量激光顯微鏡 OLS5000

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                  奧林巴斯 3D測量激光顯微鏡 OLS5000

                  奧林巴斯(中國)有限公司

                  價格:¥1元

                  所在地:日本廠商性質:生產商

                  品牌:奧林巴斯型號:

                  公司電話:86-021-51706267

                  公司傳真:021-51706236

                  市場部(聯系我時,請說明是在化工儀器網上看到的,謝謝)

                  在線詢價進入展商展臺

                  上市時間:2017-11-03

                  創新點:1、可以捕捉任意表面形狀
                  OLS5000顯微鏡的先進技術使其能夠進行高分辨率的3D樣品測量。
                  2、快速獲得可靠數據
                  該顯微鏡的掃描算法既可提高數據質量又可提高速度,從而縮短您的掃描時間,簡化您的工作流程,Z終實現生產力的提升。
                  3、使用簡單,只需放置樣品并按一下按鈕即可
                  LEXT® OLS5000顯微鏡具有自動數據采集功能,因而無需進行復雜的設置調整。 甚至生疏的用戶也可以獲得準確的檢測結果。
                  4、可測量具有挑戰性的樣品
                  低輸出、非接觸式無損激光測量意味著不需要樣品制備??梢栽诓粨p壞易損性材料的情況下對其進行測量。擴展架可容納高達210毫米的樣品,而超長工作距離物鏡能夠測量深度可達25毫米的凹坑。在測量這兩類樣品時,您只需將樣品放在載物臺上即可。


                  激光顯微鏡特點:1、使用方便,與一般光學顯微鏡相似,且全部采用計算機直觀控制。2、基本無須制樣,不損傷樣品,不需要做導電處理,也容許大尺寸樣品直接觀察,完全不破壞樣品。3、幾十秒到一兩分鐘即完成全部的掃描,成像,測量采樣工作。因此,作為一種新的檢測儀器,也是SEM的一種補充,CF-LSM越來越受到重視。4、具有實時預覽功能,可以搭載高溫臺配合使用。

                   

                  OLS5000激光共聚焦顯微鏡可以精確地測量亞微米級的表面形狀和粗糙度。圖像采集速度比我們之前的型號OLS4100快四倍,大大提高了效率。

                  4 Key values of the OLS5000

                   

                  1. 捕捉任意表面形狀。

                  Precise Imaging

                   

                  2. 快速獲得可靠數據。

                   

                  Fast

                   

                  3. 操作簡單—

                  只需放置樣
                  品并按一下按鈕即可。

                   

                  Easy to Operate

                   

                  4.測量具有挑戰性的樣品

                  Longer Working Distance for Larger Samples

                   

                  優異的平面分辨率

                  LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡配備的兩套光學系統(彩色成像光學系統和激光共焦光學系統)讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。405nm紫色激光和專用高數值孔徑物鏡可以捕捉到傳統光學顯微鏡、白光干涉儀或紅色激光顯微鏡無法發現的精細紋理和缺陷。

                   

                  專用LEXT物鏡

                  我們的專用LEXT物鏡系列近期新增了提升測量性能的長工作距離物鏡和普通工作距離的10倍物鏡。所有專用LEXT物鏡的測量性能均可獲得保證。

                   

                  4K掃描技術—檢測陡峭斜面和近納米級臺階的形貌

                  4K 掃描技術可在X軸方向掃描4096像素,是傳統機型的四倍。由此提高了高度測量的可靠性,改善了分辨率,信噪比提升了兩倍。OLS5000顯微鏡無需圖像處理就能檢測幾乎垂直的陡峭斜面和極低的臺階。

                  可準確測量高達87.5° 的大角度斜面。

                   

                  快速、精確的測量——PEAK算法

                  OLS5000 顯微鏡采用了用于 3D 數據構建的 PEAK 算法。該算法可獲得從低倍率到高倍率的高精度數據,并可縮短數據采集時間。

                  VLSI 標準樣品/ 80nm臺階 (MPLFLN10XLEXT) 

                   

                  簡單分析

                  簡單分析功能可僅在指定測量范圍內測量臺階、線寬、表面粗糙度和體積。自動檢測測量結果變動的原因(如體積分析中參考平面的邊緣位置和閾值)讓測量結果保持穩定,不受操作員技能水平的影響。

                   

                  擴展架——可檢測最大210毫米高度的樣品

                  載物臺上可放置最大高度210毫米的樣品。重復性和準確性等測量性能均確保與標準機臺相同。

                   

                   

                   

                  -END-

                   


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